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사건번호 2014허1600 권리범위확인(특)
판례제목 2014허1600 권리범위확인(특)
출원번호 제722223호
분야 특허/실용신안
판결일 2014-07-24
법원명 특허법원
원고 주식회사 매크론
피고 주식회사 쓰리비시스템
판사 배준현,곽부규,최종선
판결결과 권리범위확인
주문 1. 원고의 청구를 기각한다.
2. 소송비용은 원고가 부담한다.
청구취지 특허심판원이 2014. 1. 29. 2013당2502호 사건에 관하여 한 심결을 취소한다.
기초사실 가. 이 사건 특허발명
1) 발명의 명칭: 백라이트 유닛 검사 장치
2) 우선일/ 출원일/ 등록일/ 등록번호 : 2004. 12. 11./ 2005. 11. 2./ 2007.5. 21./ 제722223호
3) 특허권자: 원고
4) 특허청구범위 및 도면: 별지 1과 같다.

나. 확인대상발명
확인대상발명은 피고가 특정한 ‘결함 검사장치’에 관한 것으로서 그 설명서 및 도면은 별지 2와 같다.

다. 이 사건 심결의 경위
1) 피고는 2013. 9. 11. 특허심판원에 특허권자인 원고를 상대로 하여 ‘확인대상발명은 이 사건 특허발명의 권리범위에 속하지 아니한다’는 확인을 구하는 소극적 권리범위확인심판(2013당2502호)을 청구하였다.

2) 특허심판원은 2014. 1. 29. ‘확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성과 동일하거나 균등한 구성을 모두 구비하고 있지 않아 그 권리범위에 속하지 아니하고, 따라서 이 사건 제1항 발명의 종속항 발명인 이 사건 제2항 내지 제10항 발명의 권리범위에도 속하지 아니한다’는 이유로 피고의 위 심판청구를 받아들이는 이 사건 심결을 하였다.

[인정근거] 다툼 없는 사실, 갑 제1, 2, 3호증, 변론 전체의 취지
당사자의 주장 요지 가. 당사자의 주장
원고는, 확인대상발명은 이 사건 특허발명의 구성과 동일하거나 균등한 구성을 모두 구비하고 있을 뿐만 아니라 일부 구성을 결여하고 있다고 하더라도 확인대상발명은 이 사건 특허발명의 생산에만 사용되는 물건에 해당하여 간접침해에 해당한다고 주장한다.
이에 대하여 피고는, 확인대상발명은 이 사건 특허발명의 구성과 동일하거나 균등한 구성을 모두 구비하고 있지 않고, 다른 광학 검사장치의 용도로도 사용할 수 있어 간접침해에도 해당하지 않는다고 주장한다.

나. 이 사건의 쟁점
이 사건의 쟁점은, ① 확인대상발명이 이 사건 특허발명의 구성과 동일하거나 균등한 구성을 모두 구비하고 있어 이 사건 특허발명의 권리범위에 속하는지 여부, ② 확인대상발명이 이 사건 특허발명의 일부 구성을 결여하고 있다면 확인대상발명이 이 사건 특허발명의 생산에만 사용되는 물건에 해당하여 이 사건 특허발명의 권리범위에 속하는지 여부(확인대상발명의 실시가 이른바 ‘간접침해’에 해당하는지 여부)이다.
이사건 특허발명의 진보성이 부정되는지 여부 < 확인대상발명이 이 사건 특허발명과 동일 또는 균등한 구성을 구비하고 있는지 여부>

가. 이 사건 제1항 발명과의 대비

1) 구성 1 부분
가) 이 사건 제1항 발명의 구성 1은 ‘백라이트 유닛이 위치하는 장착부’인데,확인대상발명의 설명서 및 도면에는 이에 대응하는 구성이 특정되어 있지 않다.

나) 이에 대하여 원고는 구성 1의 장착부는 검사대상인 백라이트 유닛을 지지하기 위한 것이어서 확인대상발명의 결함 검사장치도 그 기능상 검사대상을 지지하기 위한 구성을 필수적으로 갖추고 있어야 하고, 확인대상발명의 도 1에는 백라이트 유닛(10)이 A방향으로 이송되는 것으로 도시되어 있어 확인대상발명은 백라이트 유닛(10)을 A방향으로 이송시키기 위한 장착부를 구비하였음을 전제로 특정된 것이므로, 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성 1의 장착부에 대응하는 구성을 갖추고 있다고 보아야 한다고 주장한다.
살피건대, 확인대상발명의 도 1에 도시된 화살표(A)방향은 이송방향을 나타내는 것에 불과하고 검사대상인 백라이트 유닛을 지지하기 위한 장착부는 결함을 검출하기 위한 검사장치를 이용하여 검사를 수행하는 자가 반드시 갖추고 있어야 하는 것이나, 기존의 설비를 이용하여 결함 검사장치로 검사를 수행할 수도 있고 검사를 수행하는 자에게 납품을 목적으로 결함 검사장치를 생산하는 피고가 장착부를 갖춘 결함 검사장치를 반드시 생산해야 하는 것은 아니므로, 확인대상발명의 결함 검사장치가 그 기능상 당연히 장착부를 갖추고 있어야 한다는 원고의 위 주장은 받아들이기 어렵다.

다) 따라서 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성 1과 동일하거나 균등한 구성을 구비하고 있지 않다.

2) 구성 2 부분

가) 이 사건 제1항 발명의 구성 2에 대비되는 확인대상발명의 특정
⑴ 이 사건 제1항 발명의 구성 2는 ‘상기 장착부의 연직상방에 배치되며, 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과하여 상기 백라이트 유닛에 구비된 도광판에 도달할 수 있는 세기를 가진 균일한 광을 상기 백라이트 유닛 표면의 입사영역을 통해 입사시켜 상기 백라이트 유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는 조명부’인데, 이에 대응하여 확인대상발명의 설명서에는 “조명부(110)는 검사대상물인 백라이트 유닛(10)의 연직상방에 배치되며, 백라이트 유닛(10)을 구성하는 필름(11)을 투과하여 백라이트 유닛(10)에 구비된 확산판(12) 및 반사판(15)에 도달할 수 있는 세기를 가진 비균일한 광을 백라이트 유닛 표면(16)의
입사영역(21)을 통해 입사시킵니다.”라고만 기재되어 있을 뿐, 확인대상발명의 조명부가 백라이트 유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는지 여부에 대한 명시적인 기재가 없다.

⑵ 이와 관련하여 이 사건 특허발명의 상세한 설명에는 “도 5a 및 도 5b는 백라이트 유닛의 구조를 도시한 도면이다. 도 5a 및 도 5b를 참조하면, 백라이트 유닛은 크게 두 종류로 나눌 수 있다. 하나는 도 5a에 도시된 바와 같이 측면에 조명이 구비된 백라이트 유닛이다. 이 경우 측면에 위치한 조명으로부터 조산된 광은 도광판을 통해 백라이트 유닛의 전면에 퍼지며, 다시 도광판의 상부에 위치한 확산판, 프리즘 등과 같은 광시트(optical sheet)들을 통과하여 백라이트 유닛의 상부로 나오게 된다. 다른 하나는 도 5b에 도시된 바와 같이 하부에 조명이 구비된 백라이트 유닛이다. 이 경우 하부에 위치한 조명으로부터 조산된 광은 반사판과 확산판을 통해 백라이트 유닛의 전면에 퍼지며, 다시 확산판의 상부에 위치한 프리즘 등과 같은 광시트(optical sheet)들을 통과하여 백라이트 유닛의 상부로 나오게 된다. 도 6은 본 발명에 따른 백라이트 유닛 검사 장치의 조명으로부터 방출된 광이 백라이트 유닛의 내부에서 전파되는 경로를 도시한 도면이다. 도 6을 참조하면, 조명으로부터 조사된 균일하고 강한 광은 도광판(610)에 도달하게 되고 도광판(610)을 통해 빛이 퍼진 후 다시 상부로 올라온다. 이에 의해 비점등 상태의 백라이트 유닛은 점등상태의 백라이트 유닛과 유사한 발광상태가 된다.”(갑 제2호증 식별번호 [0038]~[0040])라고 기재되어 있고, 이 사건 제1항 발명의 조명부가 백라이트 유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는 이유는 종래 백라이트 유닛에 전원을 연결하는 작업을 생략하기 위한 것이며, 이 사건 제1항 발명의 특허청구범위에는 백라이트 유닛 전면을 통해 광이 출사된다고 한정되어 있지 않은 점 등을 고려하면, 구성 2 중 ‘백라이트 유닛의 점등상태에 대응하는 상태’라 함은 조명부로부터 조사된 광이 도광판 또는 확산판 및 반사판에 의해 확산 및 반사되어 백라이트 유닛의 상부로 나와 촬영부 및 영상처리부를 통해 결함을 검사할 수 있는 있는 정도로 백라이트 유닛이 발광되는 상태를 의미한다고 할 수 있다.

⑶ 그런데 확인대상발명의 설명서에는 “확인대상발명은 다양한 검사대상물 중 확산판(12)이 구비된 백라이트 유닛(10)을 검사하는데 사용될 수 있습니다.백라이트 유닛(10)에 구비된 확산판(12)은 내부에 다수의 비드(13)를 포함하고 있습니다. 확산판(12) 내부로 입사된 광은 확산판(12) 내부에서 전면으로 전파 될 수 없고 일부는 비드(13)를 맞고 바로 반사되고, 나머지 대다수는 확산판(12)하측에 배치된 반사판(15)까지 도달하여 반사판(15)에 의해 반사됩니다. 따라서 도 2에 도시된 바와 같이, 확인대상발명은 백라이트 유닛(10)의 상면으로부터 입사된 광(L1)이 필름(11)을 투과하여 확산판(12)에 전달되나, 확산판(12) 내부의 비드(13) 및 반사판(15)에 의해 광(L2)이 반사되어 백라이트 유닛(10)의 상면으로 곧장 출사됩니다.”라고 기재되어 있어, 확인대상발명은 조명부(110)로부터 조사된 광이 확산판(12) 및 반사판(15)에 의해 확산 및 반사되어 촬영부(120) 및 영상처리부(130)를 통해 백라이트 유닛(10) 내부의 결함을 검사할 수 있을 정도로 백라이트 유닛(10)의 상면으로 출사되는 구성 즉, 백라이트 유닛의 점등 상태에 대응하는 상태로 만드는 구성을 구비하고 있음을 알 수 있다.

⑷ 따라서 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성 2와 대비될 수 있을 만큼 구체적으로 특정되었다.

나) 구성 2와 확인대상발명 대응구성의 동일 여부
이 사건 제1항 발명의 구성 2와 확인대상발명의 대응구성을 대비하면, 양 구성은 모두 백라이트 유닛이 위치하는 장착부(백라이트 유닛)의 연직상방에 배치된 조명부가 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과할 수 있는 세기의 광을 백라이트 유닛의 표면 영역(입사영역)에 입사시켜 백라이트 유닛을 점등상태에대응하는 상태로 만드는 점에서 동일하다.
그러나 이 사건 제1항 발명의 구성 2는 조명부로부터 조사되는 광이 ‘도광판’에 도달할 수 있는 세기를 가지는 균일한 광인 반면, 확인대상발명의 대응구성은 조명부(110)로부터 조사되는 광이 백라이트 유닛에 구비된 ‘확산판(12)’에도달할 수 있는 세기를 가진 비균일한 광인 점에서 차이가 있다.

다) 구성 2와 확인대상발명 대응구성의 균등 여부
⑴ 특허발명과 대비되는 확인대상발명이 특허발명의 권리범위에 속한다고 할 수 있기 위해서는 특허발명의 특허청구범위에 기재된 각 구성요소와 그 구성요소 간의 유기적 결합관계가 확인대상발명에 그대로 포함되어 있어야 한다. 한편 확인대상발명에서 특허발명의 특허청구범위에 기재된 구성 중 치환 내지 변경된 부분이 있는 경우에도, 양 발명에서 과제의 해결원리가 동일하고, 그러한 치환에 의하더라도 특허발명에서와 같은 목적을 달성할 수 있고 실질적으로 동일한 작용효과를 나타내며, 그와 같이 치환하는 것이 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자(이하 ‘통상의 기술자’라 한다)라면 누구나 쉽게 생각해 낼 수 있는 정도로 자명하다면, 확인대상발명이 특허발명의 출원 시 이미 공지된 기술과 동일한 기술 또는 통상의 기술자가 공지기술로부터 쉽게 발명할 수 있었던 기술에 해당하거나, 특허발명의 출원절차를 통하여 확인대상발명의 치환된 구성이 특허청구범위로부터 의식적으로 제외된 것에 해당하는 등의 특별한 사정이 없는 한, 확인대상발명은 전체적으로 특허발명의 특허청구범위에 기재된 구성과 균등한 것으로서 여전히 특허발명의 권리범위에 속한다고 보아야 한다(대법원 2014. 5. 29. 선고 2012후498 판결 등).

⑵ 다음과 같은 이 사건 특허발명의 출원경과에 비추어 보면, 원고는 이 사건 특허발명의 출원 절차에서 ‘확산판 및 반사판을 구비한 백라이트 유닛’을 검사대상으로 하는 결함 검사장치를 이 사건 제1항 발명의 권리범위로부터 의식적으로 제외하였다고 판단되므로, ‘확산판 및 반사판을 구비한 백라이트 유닛’을 검사대상으로 하는 결함 검사장치를 구성요소로 하는 확인대상발명의 구성은 이 사건 제1항 발명의 구성 2와 균등관계에 있다고 할 수 없다.

㈎ 앞서 위 가)항에서 살펴본 바와 같이, 이 사건 특허발명의 상세한 설명에는 결함 검사대상의 실시예로서 ‘광원이 측면에 구비되고 도광판을 구비한 백라이트 유닛’과 ‘하부에 광원이 구비되고 반사판과 확산판을 구비한 백라이트유닛’을 모두 예시하고 있다.
그런데 원고는 당초 이 사건 특허발명의 출원명세서에서 특허청구범위 제1항을 “… 상기 백라이트 유닛으로 입사된 후 상기 백라이트 유닛 내부의 광경로를 통해 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과할 수 있는 세기의 균일한 광을 상기 백라이트 유닛에 조사하여 상기 백라이트 유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는 조명부 …”라고 기재하여, 당초 특허청구범위 제1항에 위 두 가지 종류의 백라이트 유닛을 모두 검사대상으로 포함시켰다.

㈏ 위 특허청구범위 제1항에 대하여 특허청 심사관은 2006. 10. 25. 공개특허공보 공개번호 제2004-4호에 기재된 발명에 의하여 그 진보성이 부정된다는 내용의 의견제출통지를 하였다(을 제3호증).

㈐ 이에 원고는 2006. 12. 26. 특허청구범위 제1항을 “… 상기 장착부의 연직상방에 배치되며, 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과하여 상기 백라이트 유닛에 구비된 도광판에 도달할 수 있는 세기를 가진 균일한 광을 상기백라이트 유닛에 입사시켜 상기 백라이트 유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는 조명부”로 보정하는 의견서를 제출하였는바(갑 제6호증, 을 제4호증), 보정된 특허청구범위 제1항에서 검사대상을 위 두 가지 종류의 백라이트 유닛 중 ‘도광판을 구비한 백라이트 유닛’으로 한정하고, ‘확산판 및 반사판을 구비한 백라이트 유닛‘은 제외시켰다.

⑶ 이에 대하여 원고는, 이 사건 특허발명의 출원 과정에서 ‘도광판’을 추가한 보정은 검사대상을 ‘도광판을 구비한 백라이트 유닛’으로 한정하기 위한 것이 아니라, 단지 광의 세기를 한정하기 위한 것이므로, 위 보정에 의하여 ‘확산판 및 반사판을 구비한 백라이트 유닛’을 검사대상으로 한 결함 검사장치를 이 사건 제1항 발명의 권리범위로부터 의식적으로 제외한 것은 아니라고 주장한다.
그러나 앞서 살펴본 바와 같이 이 사건 특허발명의 상세한 설명에는 두 가지 종류의 백라이트 유닛을 결함 검사대상으로 하는 기재가 있으므로, 당초 원고는 두 가지 종류의 백라이트 유닛을 모두 결함 검사대상으로 삼을 수 있다는 인식이 있었다고 할 수 있는데, 출원 과정에서 진보성이 부정된다는 내용의 의견제출통지를 받고서 두 종류의 백라이트 유닛 중 어느 하나만을 권리범위에 포함되도록 보정함으로써 의식적으로 위 보정에 의하여 권리범위에 포함되지 않은 다른 종류의 백라이트 유닛을 이 사건 제1항 발명의 권리범위에서 제외하였다고 할 수 있으므로, 원고의 위 주장은 받아들이기 어렵다.

라) 정리
따라서 확인대상발명의 위 대응구성은 이 사건 제1항 발명의 권리범위로부터 의식적으로 제외된 것으로서 이 사건 제1항 발명의 구성 2와 균등하지 않다.

3) 구성 3 부분

가) 구성 3과 확인대상발명 대응구성의 동일 여부
⑴ 이 사건 제1항 발명의 구성 3은 ‘상기 조명부로부터 입사된 광에 의해 점등상태에 대응하는 상태로 된 상기 백라이트 유닛 표면에서 상기 입사영역과 상이한 지점에 설정된 검사영역을 촬영하여 검사대상영상을 취득하는 촬영부’인데, 이에 대응하여 확인대상발명의 설명서에는 “촬영부(120)는 백라이트 유닛표면(16)의 각 입사영역(21a, 21b)이 중첩되는 부분의 정중앙의 일부 선형 부분을 검사영역(22)으로 삼아 검사대상영상을 취득합니다(도 3 참조).”라고만 기재되어 있고, 앞서 2) 가)항에서 살펴본 바와 같이 확인대상발명은 조명부(110)가 백라이트 유닛의 점등 상태에 대응하는 상태로 만드는 구성을 구비하고 있다.

⑵ 이 사건 제1항 발명의 구성 3과 확인대상발명의 대응구성을 대비하면, 양 구성은 모두 촬영부가 조명부로부터 입사된 광에 의해 점등상태에 대응하는 상태로 된 백라이트 유닛의 표면을 촬영하여 검사대상영상을 취득하는 점에서 동일하다.
그러나 이 사건 제1항 발명의 구성 3은 백라이트 유닛 표면에서의 광의 입사영역과 촬영부의 검사영역이 상이한 반면, 확인대상발명은 백라이트 유닛 표면에서의 광의 입사영역과 촬영부(120)의 검사영역(22)이 중첩되는 점에서 차이 가 있다.

⑶ 이에 대하여 원고는, 빔의 폭은 반치각(Full Width at Half Maximum)에 의해 정해지고 빔의 입사영역 역시 반치각에 의해 정의되는 것이 업계의 기술상식이며, 확인대상발명의 입사영역은 반치각 정의에 따르면 촬영부의 검사영역과 상이한 지점에 설정되므로, 확인대상발명의 대응구성은 이 사건 제1항 발명의 구성 3과 동일하다고 주장한다.
살피건대, 빔 폭을 어떠한 기준으로 정의하였는지 여부와 상관없이 확인대상발명의 설명서에는 입사영역과 검사영역이 일부 중첩되는 것으로 특정되어있어 특정된 기술적 구성을 가지고 이 사건 제1항 발명의 구성 2와 대비하면 족할 뿐만 아니라, 광을 이용한 검사장치가 속하는 기술분야에서 빔의 폭을 반치 각 정의에 의해 설정하는 것이 기술상식이라고 볼 만한 근거도 없으며, 설령 원고가 주장하는 바와 같이 빔 폭을 반치각에 의해 정의하더라도 확인대상발명의 입사영역이 검사영역과 중첩되지 않는다고 볼 만한 근거도 없으므로, 원고의 위 주장은 받아들이기 어렵다.

나) 구성 3과 확인대상발명 대응구성의 균등 여부
⑴ 다음과 같은 사정을 고려하면, 원고가 이 사건 특허발명의 정정 과정에서 광의 입사영역과 촬영부의 검사영역이 중첩되는 확인대상발명의 결함 검사장치는 이 사건 제1항 발명의 권리범위에서 의식적으로 제외되었던 것이므로,양 구성이 서로 균등관계에 있다고 할 수 없다.

㈎ 이 사건 특허발명의 등록 당시 특허청구범위 제1항에 “… 상기 조명부로부터 입사된 광에 의해 점등상태에 대응하는 상태로 된 상기 백라이트 유닛표면의 검사영역을 촬영하여 검사대상영상을 취득하는 촬영부 …“라고 기재되어있었다(갑 제2호증).

㈏ 피고는 2010. 1. 5. 특허심판원에 ‘이 사건 특허발명은 선행발명들(일본공개특허공보 공개번호 특개2002-341345호, 일본공개특허공보 공개번호 제2001-108639호, 일본공개특허공보 공개번호 제2001-208702호, 한국공개특허공보 공개번호 제2004-89152호, 한국공개특허공보 제2003-77090호)에 의해 그 진보성이 부정된다’며 등록무효심판(2010당10)을 청구하였다. 이에 원고는 2010. 3. 16. 이 사건 특허발명의 특허청구범위 제1항을 “…상기 조명부로부터 입사된 광에 의해 점등상태에 대응하는 상태로 된 상기 백라이트 유닛 표면에서 상기 입사영역과 상이한 지점에 설정된 검사영역을 촬영하여 검사대상영상을 취득하는 촬영부 …”로 정정하는 정정청구를 하였다.

㈐ 특허심판원은 2010. 10. 18. 위 정정청구를 받아들이고, 정정된 특허청구범위 제1항의 구성 3과 관련하여 “구성요소 3의 ’촬영부’는 … 입사영역과 검사영역이 달라 필름층이나 결합부로부터 반사되어 나오는 광이 촬영부로 직접유입되는 것을 방지하는 작용효과가 있는 반면, 이에 대응하는 비교대상발명 11)의 촬영부는 … 입사영역과 검사영역이 상이한 것이라 볼 수 없어 구성요소 3과 구성 및 작용효과가 다르고 … 비교대상발명 22)의 CCD 센서(3)는 광이 입사되는 축과 동일 축상에 위치하므로 입사영역과 검사영역이 상이하지 않고 동일하게 되며 …”(을 제7호증 10면 3~14행), “… 이 사건 제1항 정정발명에서 … 상방향으로 출사하는 부분에서 촬영을 행함으로써 입사영역과 중첩되지 않는 검사영역을 촬영하는 구성인 촬영부(구성요소 3)와 대비할 만한 구성이 비교대상발명 3 내지 53)에는 나타나 있지 않거나 …”(을 제7호증 11면 1~6행)라는 내용으로, 위 정정청구로 추가된 부분(입사영역과 상이한 지점에 설정된 검사영역)에 의해 이 사건 제1항 발명의 진보성이 부정되지 않는다는 취지의 심결을 하였다.

⑵ 또한 이 사건 제1항 발명의 구성 3과 관련하여 이 사건 특허발명의 상세한 설명에는 “본 발명에 따른 백라이트 유닛 검사 장치는 이와 같이 검사대상물에 의해 되돌아 나오는 광을 카메라로 촬영하여 백라이트 유닛의 결함을 검출하게 된다. 이때 광원으로부터 직접 광이 카메라로 입사되거나 백라이트 유닛에 의해 반사된 광이 카메라로 입사되는 것을 방지할 필요가 있다. 즉, 본 발명에 따른 백라이트 유닛 검사 장치의 경우에 종래의 백라이트 유닛 검사 정치에 적용되는 조명방식과는 달리 검사하고자 하는 검사영역(즉, 카메라의 촬영영역)의 주변부에 광을 조사해야 한다.”(갑 제2호증 식별번호 [0037])라고 기재되어 있는바, 위 기재에 비추어 보면 이 사건 제1항 발명은 광의 입사영역과 검사영역을 상이하게 함으로써 광원의 광이 카메라로 입사되거나 백라이트 유닛에 의해반사된 광이 카메라로 입사되는 것을 방지할 수 있어 검사효율을 향상시킬 수 있는 효과를 가지는 반면, 확인대상발명은 광의 입사영역과 검사영역이 중첩되어 위와 같은 효과를 기대할 수 없는 점에서 양 구성은 효과에서도 차이가 있다.

다) 정리
따라서 확인대상발명의 위 대응구성은 이 사건 제1항 발명의 권리범위로부터 의식적으로 제외된 것일 뿐만 아니라, 효과에서도 차이가 있으므로, 이 사건제1항 발명의 구성 3과 균등관계에 있다고 할 수 없다.

4) 구성 4 부분
이 사건 제1항 발명의 구성 4는 ‘상기 촬영부로부터 입력받은 검사대상영상을 기초로 상기 백라이트 유닛의 내부에 존재하는 결함을 검출하는 영상처리부’로서, 이는 확인대상발명의 “영상처리부(130)는 촬영부(120)로부터 입력받은 검사대상영상을 기초로 백라이트 유닛(10)의 내부에 존재하는 결함을 검출합니다.”라는 구성과 동일하다.

5) 대비의 결과
이상에서 살펴본 내용을 종합하면, 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성4와 동일한 구성을 포함하고 있으나, 이 사건 제1항 발명의 구성 1 내지 3과 동일하거나 균등한 구성을 포함하고 있지 않으므로, 이 사건 제1항 발명의 권리범위에 속하지 않는다.

나. 이 사건 제2항 내지 제10항 발명과의 대비
이 사건 제2항 내지 제10항 발명은 이 사건 제1항 발명을 인용하는 종속항 발명으로서, 확인대상발명이 이 사건 제1항 발명의 권리범위에 속하지 않으므로 당연히 이 사건 제2항 내지 제10항 발명의 권리범위에도 속하지 않는다.

< 확인대상발명이 이 사건 특허발명의 생산에만 사용하는 물건에 해당 되는지 여부 >
특허권자는 특허법 제135조, 제127조 제1호에 의해 이 사건 제1항 발명에 관한 결함 검사장치의 생산에만 사용하는 물건과 대비되는 물건을 확인대상발명으로 특정하여 그 특허권의 보호범위에 속하는지 여부의 확인을 구할 수 있는데, 이 사건 제1항 발명의 구성 1의 ‘장착부’를 구비하고 있지 않은 확인대상발명의 결함 검사장치가 이 사건 제1항 발명의 생산에만 사용하는 물건에 해당하기 위해서는 확인대상발명의 결함 검사장치가 이 사건 제1항 발명의 구성 1의 ‘장착부’를 제외한 나머지 구성들(조명부, 촬영부 및 영상처리부)과 동일하거나 균등한 구성을 모두 갖추고 있음을 전제로 해야 한다.
그런데 앞서 3.항에서 살펴본 바와 같이 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 구성 2의 ‘조명부’ 및 구성 3의 ‘촬영부’와 동일하거나 균등한 구성을 갖추고 있지 않으므로, 확인대상발명은 이 사건 제1항 발명의 생산에 사용하는 물건이라고 할 수 없고, 이 사건 제1항 발명의 종속항 발명인 이 사건 제2항 내지 제10항 발명의 생산에 사용하는 물건이라고도 할 수 없다.
따라서 확인대상발명의 결함 검사장치가 이 사건 제1항 내지 제10항 발명의 생산에 사용하는 용도 이외의 사회통념상 통용되고 승인될 수 있는 경제적, 상업적 내지 실용적인 다른 용도가 있는지 여부에 대하여 더 나아가 살펴볼 필요없이, 확인대상발명의 실시가 이 사건 제1항 내지 제10항 발명의 간접침해에 해당한다고 할 수 없다.
결론 그렇다면 확인대상발명이 이 사건 특허발명의 권리범위에 속하지 않는다는 이 사건 심결은 위와 결론을 같이 하여 적법하므로, 그 취소를 구하는 원고의 청구는 이유 없어 이를 기각하기로 하여 주문과 같이 판결한다.

[별지 1]

< 이 사건 특허발명 >


1. 특허청구범위 (2011. 8. 2.자 정정공고된 것, 정정된 부분을 밑줄로 특정함)
【청구항 1】
백라이트 유닛이 위치하는 장착부(‘구성 1’이라 한다);

상기 장착부의 연직상방에 배치되며, 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과하여 상기 백라이트 유닛에 구비된 도광판에 도달할 수 있는 세기를 가진 균일한 광을 상기 백라이트 유닛 표면의 입사영역을 통해 입사시켜 상기 백라이트유닛을 점등상태에 대응하는 상태로 만드는 조명부(‘구성 2’라 한다);
상기 조명부로부터 입사된 광에 의해 점등상태에 대응하는 상태로 된 상기 백라이트 유닛 표면에서 상기 입사영역과 상이한 지점에 설정된 검사영역을 촬영하여 검사대상영상을 취득하는 촬영부(‘구성 3’이라 한다); 및 상기 촬영부로부터 입력받은 검사대상영상을 기초로 상기 백라이트 유닛의 내
부에 존재하는 결함을 검출하는 영상처리부(‘구성 4’라 한다);를 포함하는 것을특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치(‘이 사건 제1항 발명’이라 하고, 나머지 청구항도 같은 방식으로 부른다).
【청구항 2】
제 1항에 있어서,

상기 조명부는,
상기 촬영부의 일측에 위치하며, 상기 백라이트 유닛으로 입사된 후 상기 백라이트 유닛 내부의 광경로를 통해 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과할 수 있는 세기의 균일한 광을 방출하는 조명;
상기 조명의 하부에 위치하며, 상기 조명으로부터 방출된 광의 일부는 투과시켜 상기 백라이트 유닛에 조사하고 일부는 광의 경로를 변경하여 반사하는 제1거울; 및

상기 제1거울에 의해 반사된 광의 경로를 변경하여 상기 백라이트 유닛에 조사하는 제2거울;을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.

【청구항 3】
제 1항에 있어서,
상기 조명부는 상기 촬영부의 양측에 위치하여 상기 백라이트 유닛으로 입사된 후 상기 백라이트 유닛 내부의 광경로를 통해 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과할 수 있는 세기의 균일한 광을 방출하는 복수의 조명을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 4】
제 2항 또는 제 3항에 있어서,
상기 조명부는 상기 조명으로부터 상기 촬영부로 직접 입사되는 광 및 상기 백라이트 유닛에 의해 반사되어 상기 촬영부로 입사되는 잡광을 차단하는 광 차단막을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 5】
제 1항에 있어서,
상기 조명부는,
상기 백라이트 유닛으로 입사된 후 상기 백라이트 유닛 내부의 광경로를 통해 상기 백라이트 유닛을 구성하는 필름을 투과할 수 있는 세기의 균일한 광을 방출하는 조명; 및
상기 조명으로부터 상기 촬영부로 직접 입사되는 광 및 상기 백라이트 유닛에 의해 반사되어 상기 촬영부로 입사되는 잡광을 차단하는 광 차단막;을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 6】
제 1항에 있어서,
상기 장착부는 상부에 위치한 상기 백라이트 유닛을 상기 촬영부의 촬영지점으로 이송하는 이동스테이지인 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사장치.
【청구항 7】
제 6항에 있어서,
상기 촬영부는 상기 백라이트 유닛의 이송방향과 수직한 선형의 촬영영역을 갖는 리니어 카메라인 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 8】
제 7항에 있어서,

상기 조명부는 상기 백라이트 유닛의 이송경로상에 상기 리니어 카메라촬영부로부터 소정거리 이격된 상부측과 하부측에 각각 설치되며, 상기 리니어 카메라의 촬영영역과 평행한 선형의 광을 방출하는 복수의 조명을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 9】
제 7항에 있어서,
상기 조명부는,
상기 백라이트 유닛의 이송경로상에 상기 리니어 카메라촬영부로부터 소정거리 이격된 지점에 설치되며, 상기 리니어 카메라의 촬영영역과 평행한 선형의 광을 방출하는 조명;
상기 조명의 하부에 위치하며, 상기 조명으로부터 방출된 광의 일부는 투과시켜 상기 백라이트 유닛에 조사하고 일부는 광의 경로를 변경하여 반사하는 제1거울; 및
상기 제1거울에 의해 반사된 광의 경로를 변경하여 상기 백라이트 유닛에 조사하는 제2거울;을 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.
【청구항 10】
제 1항 또는 제 6항에 있어서,
상기 조명부는 사전에 설정되어 있는 백라이트 유닛의 종류별 조명밝기값 중에서 외부로부터 제공되는 상기 백라이트 유닛의 종류정보에 대응하는 조명밝기값에 의해 상기 백라이트 유닛에 조사되는 광의 세기를 조절하는 광량조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛 검사 장치.

 

2. 도면


[도면의 주요 참조부호의 설명]
410: 장착부,   420: 조명부,   430: 촬영부,   

440: 영상처리부,   450: 백라이트 유닛,   610: 도광판

 

[별지 2]

< 확인대상발명의 설명서 및 도면 >
 

1. 확인대상발명의 명칭
결함 검사장치

 

2. 확인대상발명의 도면의 설명
도 1은 확인대상발명의 구성을 개략적으로 도시한 도면이고,
도 2는 확인대상발명에 의해 검사되는 백라이트 유닛의 내부와 광경로를 도시한 도면이고,
도 3은 확인대상발명에 의해 검사되는 백라이트 유닛의 입사영역과 검사영역을 나타내는 도면입니다.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : 결함 검사장치,   110 : 조명부,   120 : 촬영부,   130 : 영상처리부  

 

3. 확인대상발명의 요지
확인대상발명은 검사대상물에 광을 조사하고 영상을 촬영하여 검사대상물에 포함된 결함을 검사하는 결함 검사장치에 관한 것으로서, 백라이트 유닛, 광학필름 등 다양한 디스플레이 부품의 결함 검사에 이용될 수 있는 장치입니다. 이하에서는 백라이트 유닛을 검사하는 경우를 예로 들어 설명하겠습니다.
도 1을 참조하면, 확인대상발명인 결함 검사장치(100)는 조명부(110)와, 촬영부(120)와, 영상처리부(130)를 포함합니다.
조명부(110)는 검사대상물인 백라이트 유닛(10)의 연직상방에 배치되며, 백라이트 유닛(10)을 구성하는 필름(11)을 투과하여 백라이트 유닛(10)에 구비된 확산판(12) 및 반사판(15)에 도달할 수 있는 세기를 가진 비균일한 광을 백라이트유닛 표면(16)의 입사영역(21)을 통해 입사시킵니다.
한 쌍의 조명부(110a, 110b)는 촬영부(120)의 양측에 각각 설치되고, LED를 광원으로 사용하며, LED 광원으로부터 조사되는 광을 집광할 수 있는 별도의 집광렌즈 등은 포함하고 있지 않습니다. 따라서 조명부(110)로부터 출사된 광은 백라이트 유닛의 표면(16)에 도달할 때까지 점진적으로 확산되며, 도 3에 도시된 바와 같이 백라이트 유닛의 표면(16)에서 일정 면적의 입사영역(21a, 21b)을 각각 형성합니다.
또한, 조명부(110a, 110b)는 입사영역(21a, 21b)의 중앙부(즉, 광축)에 입사되는 광량이 가장 많고 광축에서 멀어질수록 점점 감소하는, 입사영역 전면적에 걸쳐 광량에 편차가 있는 비균일한 광을 방출하고 있습니다.
촬영부(120)는 백라이트 유닛 표면(16)의 각 입사영역(21a, 21b)이 중첩되는부분의 정중앙의 일부 선형 부분을 검사영역(22)으로 삼아 검사대상영상을 취득합니다(도 3 참조).
촬영부(120)는 한 쌍의 조명부(110a, 110b) 사이에 설치되고, 리니어 카메라(Linear Camera)가 사용됩니다. 리니어 카메라는 백라이트 유닛(10)의 영상을 획득할 수 있는 픽셀이 1개의 라인으로 구성된 카메라로써, 도 1에 도시된 바와 같이 백라이트 유닛(10)이 검사진행방향(A)을 따라 이송되는 동안 백라이트 유닛(10)의 영상을 라인 단위로 획득합니다. 획득된 라인 단위 영상을 합치면 전체 백라이트 유닛(10)의 영상이 표시될 수 있습니다.
도 3에 도시된 바와 같이, 확인대상발명의 촬영부(120)는 리니어 카메라를 사용하므로 백라이트 유닛 표면(16)에서 라인 형태의 검사영역(22)을 형성하며, 촬영부(120)에 의해 형성되는 검사영역(22)은 각각의 입사영역(21a, 21b)과 중첩되게 배치됩니다.
영상처리부(130)는 촬영부(120)로부터 입력받은 검사대상영상을 기초로 백라이트 유닛(10)의 내부에 존재하는 결함을 검출합니다. 영상처리부(130)는 전송받은 영상에서 픽셀 간의 밝기를 비교하여 결함을 인식한 후 각종 결함의 종류, 위치 등을 판단합니다.
확인대상발명은 다양한 검사대상물 중 확산판(12)이 구비된 백라이트 유닛(10)을 검사하는데 사용될 수 있습니다. 백라이트 유닛(10)에 구비된 확산판(12)은 내부에 다수의 비드(13)를 포함하고 있습니다. 확산판(12) 내부로 입사된 광은 확산판(12) 내부에서 전면으로 전파될 수 없고 일부는 비드(13)를 맞고 바로 반사되고, 나머지 대다수는 확산판(12) 하측에 배치된 반사판(15)까지 도달하여반사판(15)에 의해 반사됩니다.
따라서, 도 2에 도시된 바와 같이, 확인대상발명은 백라이트 유닛(10)의 상면으로부터 입사된 광(L1)이 필름(11)을 투과하여 확산판(12)에 전달되나, 확산판(12) 내부의 비드(13) 및 반사판(15)에 의해 광(L2)이 반사되어 백라이트 유닛(10)의 상면으로 곧장 출사됩니다. 도 2에 표시된 14 부재는 백라이트 유닛 내부에 설치된 광원이고, 15 부재는 반사판입니다.


4. 확인대상발명의 도면

 


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